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                        高低溫沖擊試驗箱 三箱冷熱沖擊試驗機

                        簡(jiǎn)要描述:

                        高低溫沖擊試驗箱 三箱冷熱沖擊試驗機
                        高低溫沖擊試驗主要用于測試材料對高溫或低溫的抵抗力,這種情況類(lèi)似于不連續地處于高溫或低溫中的情形,高低溫冷熱沖擊試驗能使各種物品在短的時(shí)間內完成測試。適用的對像包括金屬、塑料、橡膠……等,可作為其產(chǎn)品的依據參考

                        型號:TSD-80F-3P 瀏覽量:518
                        更新時(shí)間:2024-05-25 是否能訂做:是

                        高低溫沖擊試驗箱 三箱冷熱沖擊試驗機

                        技術(shù)參數:

                          1.型號:TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35×30×35cm

                          2.型號:TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40×35×35cm

                          3.型號:TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40×50×50cm

                          4.型號:TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60×50×50cm

                        5.型號:TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm

                        5.型號:TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm



                        高低溫沖擊試驗箱 三箱冷熱沖擊試驗機

                        高低溫沖擊試驗箱技術(shù)參數:

                        號:TSB-80F-3P

                        標稱(chēng)容積:80L

                        試驗方式:氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換3溫室方式

                        高溫室性能:預熱上限溫度(+200℃)

                        高溫室升溫速率:(+70℃→+200℃≤20min)

                        低溫室性能:預冷下限溫度(-75℃)

                        低溫室降溫速率:(+70℃→-150℃≤80min)

                        試驗室溫度偏差:±2.0℃

                        試驗室高溫沖擊范圍:(+70℃→+150℃)

                        試驗室低溫沖擊范圍:(-10℃→-55℃)

                        試驗室溫度恢復時(shí)間:≤5min

                        試樣籃高低溫室轉換時(shí)間:≤10s

                        試樣擱架承載能力:30kg



                        設備特點(diǎn):

                        1.采用進(jìn)的計測裝置,控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話(huà)式LCD人機接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習容易,穩定可靠,中,英文顯示完整的系統操作狀況、執行及設定程序曲線(xiàn)

                        2.箱體左側具一直徑50mm之測試孔,可供外加電源負載配線(xiàn)測試部件。

                        3.可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能,具備高低溫試驗機的功能。




                        高低溫沖擊試驗箱的試驗標準及執行方法:

                        GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;

                        GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);

                        GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);

                        GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);

                        GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;

                        GJB/T 150.4-86設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;

                        GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。


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